Zeitschriftenartikel:
A. El-Sayed, M. Watkins, T. Grasser, V. Afanas´Ev, A. Shluger:
"Hole Trapping at Hydrogenic Defects in Amorphous Silicon Dioxide";
Microelectronic Engineering,
147
(2015),
S. 141
- 144.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2015.04.073
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/JB2015_Grasser_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.