Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
K. Giering, C. Sohrmann, G. Rzepa, L. Heiß, T. Grasser, R. Jancke:
"NBTI Modeling in Analog Circuits and its Application to Long-Term Aging Simulations";
Vortrag: IEEE International Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, CA, USA;
12.10.2014
- 16.10.2014; in: "Proceedings of the IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
IEEE,
(2014),
ISBN: 978-1-4799-7308-8;
S. 29
- 34.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW.2014.7049501
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2014_Rzepa_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.