Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
J. Franco, B. Kaczer, P. Roussel, E. Bury, H. Mertens, R. Ritzenthaler, T. Grasser, N. Horiguchi, A. Thean, G Groeseneken:
"NBTI in Si 0.55 Ge 0.45 Cladding p-FinFETs: Porting the Superior Reliability from Planar to 3D Architectures";
Vortrag: International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Monterey, CA, USA;
19.04.2015
- 23.04.2015; in: "Proceedings of the International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
IEEE,
(2015),
S. 2F.4.1
- 2F.4.5.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2015.7112694
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2015_Grasser_6.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.