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Zeitschriftenartikel:

P. Sharma, S. E. Tyaginov, Y. Wimmer, F. Rudolf, K. Rupp, H. Enichlmair, J.M. Park, H. Ceric, T. Grasser:
"Comparison of Analytic Distribution Function Models for Hot-Carrier Degradation in nLDMOSFETs";
Microelectronics Reliability, 55 (2015), 9-10; S. 1427 - 1432.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2015.06.021

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2015/JB2015_sharma_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.