Zeitschriftenartikel:
Yu. Illarionov, A. Smith, S. Vaziri, M. Ostling, T. Müller, M. Lemme, T. Grasser:
"Hot-Carrier Degradation and Bias-Temperature Instability in Single-Layer Graphene Field-Effect Transistors: Similarities and Differences";
IEEE Transactions on Electron Devices,
62
(2015),
11;
S. 3876
- 3881.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2015.2480704
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2015/JB2015_Illarionov_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.