Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
B. Kaczer, J. Franco, P. Weckx, P. Roussel, E. Bury, M. Cho, R. Degraeve, D. Linten, G. Groeseneken, H. Kukner, P. Raghavan, F. Catthoor, G. Rzepa, W. Gös, T. Grasser:
"The Defect-Centric Perspective of Device and Circuit Reliability - From Individual Defects to Circuits";
Vortrag: European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC),
Graz, Austria (eingeladen);
14.09.2015
- 18.09.2015; in: "Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)",
(2015),
ISBN: 978-1-4673-7860-4;
S. 218
- 225.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ESSDERC.2015.7324754
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2015/CP2015_Kaczer_1.1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.