Dissertationen (eigene und begutachtete):
Yu. Illarionov:
"Characterization and Modeling of Charged Defects in Silicon and 2D Field-Effect Transistors";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, L. Larcher;
Institut für Mikroelektronik,
2015;
Rigorosum: 18.12.2015.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2016.34580
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/illarionov/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.