Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
M. Waltl, A. Grill, G. Rzepa, W. Gös, J. Franco, B. Kaczer, J. Mitard, T. Grasser:
"Nanoscale Evidence for the Superior Reliability of SiGe High-k pMOSFETs";
Poster: International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Pasadena, CA, USA;
17.04.2016
- 21.04.2016; in: "Proceedings of the International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2016),
S. XT-02-1
- XT-02-6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2016.7574644
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2016/CP2016_Waltl_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.