Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Grill, G. Rzepa, P. Lagger, C. Ostermaier, H. Ceric, T. Grasser:
"Charge Feedback Mechanisms at Forward Threshold Voltage Stress in GaN/AlGaN HEMTs";
Vortrag: IEEE International Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, CA, USA;
11.10.2015
- 15.10.2015; in: "Proceedings of the IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
(2015),
ISBN: 978-1-4673-7395-1;
S. 41
- 45.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW.2015.7437064
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2016/CP2016_Grill_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.