Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
S. E. Tyaginov, M. Jech, P. Sharma, J. Franco, B. Kaczer, T. Grasser:
"On the Temperature Behavior of Hot-Carrier Degradation";
Vortrag: IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, CA, USA;
11.10.2015
- 15.10.2015; in: "Proceedings of the IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
(2015),
S. 143
- 146.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW.2015.7437088
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2016/CP_2016_Tyaginov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.