Dissertationen (eigene und begutachtete):
M. Waltl:
"Experimental Characterization of Bias Temperature Instabilities in Modern Transistor Technologies";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, D. Schmitt-Landsiedel;
Institut für Mikroelektronik,
2016;
Rigorosum: 09.09.2016.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2016.38201
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/phd/waltl/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.