Zeitschriftenartikel:
S. Papaleo, W. H. Zisser, A.P. Singulani, H. Ceric, S. Selberherr:
"Stress Evolution During Nanoindentation in Open TSVs";
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability,
16
(2016),
4;
S. 470
- 474.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TDMR.2016.2622727
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2016/JB2016_Papaleo_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.