Zeitschriftenartikel:
Yu. Illarionov, M. Waltl, G. Rzepa, J. Kim, S. Kim, A. Dodabalapur, D. Akinwande, T. Grasser:
"Long-Term Stability and Reliability of Black Phosphorus Field-Effect Transistors";
ACS Nano,
10
(2016),
10;
S. 9543
- 9549.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1021/acsnano.6b04814
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2016/JB2016_Illarionov_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.