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Dissertationen (eigene und begutachtete):
M. Rovitto:
"Electromigration Reliability Issue in Interconnects for Three-Dimensional Integration Technologies";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Ceric, K. Weide-Zaage; Institut für Mikroelektronik, 2016; Rigorosum: 13.12.2016.

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/rovitto/

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.