Dissertationen (eigene und begutachtete):
R. Stradiotto:
"Characterization of Electrically Active Defects at III-N/Dielectric Interfaces";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, G. Meneghesso;
Institut für Mikroelektronik,
2016;
Rigorosum: 16.12.2016.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2016.41581
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/stradiotto/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.