Zeitschriftenartikel:
E. Brinciotti, G. Badino, M. Knaipp, G. Gramse, J. Smoliner, F. Kienberger:
"Calibrated Nanoscale Dopant Profiling and Capacitance of a High-Voltage Lateral MOS Transistor at 20 GHz Using Scanning Microwave Microscopy";
IEEE Transactions on Nanotechnology,
16
(2017),
2;
S. 245
- 252.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TNANO.2017.2657888
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/JB2017_Brinciotti_01.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.