Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
B. Ullmann, M. Jech, S. E. Tyaginov, M. Waltl, Yu. Illarionov, A. Grill, K. Puschkarsky, H. Reisinger, T. Grasser:
"The Impact of Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot Carrier Stress on Single Oxide Defects";
Poster: International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Monterey, CA, USA;
04.04.2017
- 06.04.2017; in: "Proceedings of the International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2017),
ISBN: 978-1-5090-6642-1;
S. XT-10.1
- XT-10.6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2017.7936424
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2017/CP2017_Ullmann_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.