Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
Yu. Illarionov, G. Rzepa, M. Waltl, T. Knobloch, J. Kim, D. Akinwande, T. Grasser:
"Accurate Mapping of Oxide Traps in Highly-Stable Black Phosphorus FETs";
Vortrag: IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM),
Toyama, Japan;
28.02.2017
- 02.03.2017; in: "Proceedings of the IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)",
(2017),
ISBN: 978-1-5090-4661-4;
S. 114
- 115.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/EDTM.2017.7947532
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2017/CP2017_Illarionov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.