Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Grill, B. Stampfer, M. Waltl, K.-S. Im, J. Lee, C. Ostermaier, H. Ceric, T. Grasser:
"Characterization and Modeling of Single Defects in GaN/AlGaN Fin-MIS-HEMTs";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Monterey, CA, USA;
02.04.2017
- 06.04.2017; in: "Proceedings of IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2017),
ISBN: 978-1-5090-6641-4;
S. 3B-5.1
- 3B-5.5.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2017.7936285
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2017/CP2017_Grill_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.