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Zeitschriftenartikel:

C. Ostermaier, P. Lagger, M. Reiner, D. Pogany:
"Review of bias-temperature instabilities at the III-N/dielectric interface";
Microelectronics Reliability, 82 (2018), S. 62 - 83.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microel.2017.12.039

Elektronische Version der Publikation:
http://publik.tuwien.ac.at/files/publik_268440.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.