Zeitschriftenartikel:
C. Ostermaier, P. Lagger, M. Reiner, D. Pogany:
"Review of bias-temperature instabilities at the III-N/dielectric interface";
Microelectronics Reliability,
82
(2018),
S. 62
- 83.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microel.2017.12.039
Elektronische Version der Publikation:
http://publik.tuwien.ac.at/files/publik_268440.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.