Zeitschriftenartikel:
J. Stathis, S. Mahapatra, T. Grasser:
"Controversial Issues in Negative Bias Temperature Instability";
Microelectronics Reliability,
81
(2018),
S. 244
- 251.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2017.12.035
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/JB2018_Grasser_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.