Zeitschriftenartikel:
G. Rzepa, J. Franco, B.J. O´Sullivan, A. Subirats, M. Simicic, G. Hellings, P. Weckx, M. Jech, T. Knobloch, M. Waltl, P. Roussel, D. Linten, B. Kaczer, T. Grasser:
"Comphy -- A Compact-Physics Framework for Unified Modeling of BTI";
Microelectronics Reliability (eingeladen),
85
(2018),
1;
S. 49
- 65.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2018.04.002
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/JB2018_Rzepa_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.