Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Makarov, S. E. Tyaginov, B. Kaczer, M. Jech, A. Chasin, A. Grill, G. Hellings, M. Vexler, D. Linten, T. Grasser:
"Hot-Carrier Degradation in FinFETs: Modeling, Peculiarities, and Impact of Device Topology";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
San Francisco, CA, USA;
02.12.2017
- 06.12.2017; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2017),
ISBN: 978-1-5386-3559-9;
S. 310
- 313.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2017.8268381
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/CP2017_Makarov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.