Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
Yu. Illarionov, A.J. Molina- Mendoza, M. Waltl, T. Knobloch, M. M. Furchi, T. Mueller, T. Grasser:
"Reliability of next-generation field-effect transistors with transition metal dichalcogenides";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Burlingame, CA, USA;
11.03.2018
- 15.03.2018; in: "Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2018),
ISBN: 978-1-5386-5479-8;
6 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2018.8353605
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/CP2018_Illarionov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.