Dissertationen (eigene und begutachtete):
B. Ullmann:
"Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, J. Schmitz, S. Reggiani;
Institut für Mikroelektronik,
2018;
Rigorosum: 28.06.2018.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2018.57328
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/ullmann/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.