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Dissertationen (eigene und begutachtete):
A. Grill:
"Charge Trapping and Single-Defect Extraction in Gallium-Nitride Based MIS-HEMTs";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, G. Meneghesso, D. Pogany; Institut für Mikroelektronik, 2018; Rigorosum: 22.10.2018.

"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2018.60228

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.