Zeitschriftenartikel:
R. Stradiotto, G. Pobegen, C. Ostermaier, T. Grasser:
"Characterization of Charge Trapping Phenomena at III-N/Dielectric Interfaces";
Solid-State Electronics,
125
(2016),
S. 142
- 153.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2016.07.017
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/JB2018_Stradiotto_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.