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Diplom- und Master-Arbeiten (eigene und betreute):
P. Fleischanderl:
"Charakterisierung von Hot Carrier Degradation in Siliziumtransistoren";
Betreuer/in(nen): T. Grasser, M. Waltl; Institut für Mikroelektronik, 2018; Abschlussprüfung: 26.11.2018.

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.