[Zurück]


Diplom- und Master-Arbeiten (eigene und betreute):
C. Schleich:
"Charakterisierung und Modellierung von SiC Transistoren";
Betreuer/in(nen): T. Grasser, M. Waltl; Institut für Mikroelektronik, 2019; Abschlussprüfung: 25.01.2019.

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.