Zeitschriftenartikel:
B. Ullmann, K. Puschkarsky, M. Waltl, H. Reisinger, T. Grasser:
"Evaluation of Advanced MOSFET Threshold Voltage Drift Measurement Techniques";
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability,
19
(2019),
2;
S. 358
- 362.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TDMR.2019.2909993
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/JB2019_Ullmann_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.