Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Makarov, B. Kaczer, Ph. Roussel, A. Chasin, M. Vandemaele, G. Hellings, A.-M. El-Sayed, M. Jech, T. Grasser, D. Linten, S. E. Tyaginov:
"Stochastic Modeling of Hot-Carrier Degradation in nFinFETs Considering the Impact of Random Traps and Random Dopants";
Vortrag: European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC),
Krakow, Poland;
23.09.2019
- 26.09.2019; in: "Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)",
(2019),
ISBN: 978-1-7281-1539-9;
S. 262
- 265.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ESSDERC.2019.8901721
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/CP2019_Makarov_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.