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Vorträge und Posterpräsentationen (ohne Tagungsband-Eintrag):

H. Ceric, H. Zahedmanesh, K. Croes:
"Analysis of Electromigration Failure of Nano-Interconnects through a Combination of Modeling and Experimental Methods";
Vortrag: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Toulouse, France; 23.09.2019 - 26.09.2019.


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.