Zeitschriftenartikel:
J. Franco, Z. Wu, G. Rzepa, L. Ragnarsson, H. Dekkers, A. Vandooren, G Groeseneken, N. Horiguchi, N. Collaert, D. Linten, T. Grasser, B. Kaczer:
"On the Impact of the Gate Work-Function Metal on the Charge Trapping Component of NBTI and PBTI";
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability,
19
(2019),
2;
S. 268
- 274.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TDMR.2019.2913258
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/JB2020_Franco_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.