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Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):

B. O´Sullivan, R. Ritzenthaler, G. Rzepa, Z. Wu, E. D. Litta, O. Richard, T. Conard, V. Machkaoutsan, P. Fazan, C. Kim, J. Franco, B. Kaczer, T. Grasser, A. Spessot, D. Linten, N. Horiguchi:
"Gate-Stack Engineered NBTI Improvements in Highvoltage Logic-For-Memory High-κ/Metal Gate Devices";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Monterey, CA, USA; 31.03.2019 - 04.04.2019; in: "Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)", (2019), ISBN: 978-1-5386-9504-3; S. 1 - 8.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2019.8720598

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/CP2019_OSullivan_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.