Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Makarov, Ph. Roussel, E. Bury, M. Vandemaele, A. Spessot, D. Linten, B. Kaczer, S. E. Tyaginov:
"On Correlation Between Hot-Carrier Stress Induced Device Parameter Degradation and Time-Zero Variability";
Vortrag: IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, USA;
13.10.2019
- 17.10.2019; in: "Proceedings of the IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
(2019),
ISBN: 978-1-7281-2203-8.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW47491.2019.8989882
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/CP2019_Makarov_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.