Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
B. Stampfer, M. Simicic, P. Weckx, A. Abbasi, B. Kaczer, T. Grasser, M. Waltl:
"Statistical Characterization of BTI and RTN using Integrated pMOS Arrays";
Vortrag: IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, CA, USA;
13.10.2019
- 17.10.2019; in: "Proceedings of the IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
(2019),
S. 1
- 5.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW47491.2019.8989904
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/CP2019_Stampfer_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.