Zeitschriftenartikel:
A. Shah, D. Rossi, V. Sharma, S. Vishvakarma, M. Waltl:
"Soft Error Hardening Enhancement Analysis of NBTI Tolerant Schmitt Trigger Circuit";
Microelectronics Reliability,
107
(2020),
S. 113617.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113617
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/JB2020_Shah_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.