Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
Yu. Illarionov, T. Grasser:
"Reliability of 2D Field-Effect Transistors: from First Prototypes to Scalable Devices";
Vortrag: IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA),
Hangzhou, China (eingeladen);
02.07.2019
- 05.07.2019; in: "Proceedings of the International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)",
(2019),
S. 1
- 6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IPFA47161.2019.8984799
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/CP2019_Illarionov_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.