Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
M. Waltl:
"Defect Spectroscopy in SiC Devices";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Dallas, TX, USA - virtual (eingeladen);
28.04.2020; in: "Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2020),
S. 1
- 9.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS45951.2020.9129539
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/CP2020_Waltl_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.