Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Grill, E. Bury, J. Michl, S. Tyaginov, D. Linten, T. Grasser, B. Parvais, B. Kaczer, M. Waltl, I. Radu:
"Reliability and Variability of Advanced CMOS Devices at Cryogenic Temperatures";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Dallas, TX, USA - virtual;
28.04.2020
- 30.04.2020; in: "Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2020),
ISBN: 978-1-7281-3199-3;
S. 1
- 6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS45951.2020.9128316
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/CP2020_Grill_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.