Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
J. Berens, M. Weger, G. Pobegen, T. Aichinger, G. Rescher, C. Schleich, T. Grasser:
"Similarities and Differences of BTI in SiC and Si Power MOSFETs";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Dallas, TX, USA - virtual;
29.03.2020
- 02.04.2020; in: "Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2020),
ISBN: 978-1-7281-3200-6;
S. 1
- 6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS45951.2020.9129259
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/CP2020_Berens_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.