Zeitschriftenartikel:
A. Makarov, Ph. Roussel, E. Bury, M. Vandemaele, A. Spessot, D. Linten, B. Kaczer, S. E. Tyaginov:
"Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Parameter Variabilities: Modeling Approach";
Micromachines,
11
(2020),
7;
S. 675.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.3390/mi11070657
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/JB2020_Makarov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.