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Zeitschriftenartikel:
M. Waltl:
"Reliability of Miniaturized Transistors from the Perspective of Single-Defects";
Micromachines (eingeladen), 11 (2020), 8; S. 736-1 - 736-21.

"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.3390/mi11080736
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/JB2020_Waltl_2.pdf

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.