Zeitschriftenartikel:
H. Kariem, T. Kiefer, Ch. Hellmich, W. Gaggl, A. Steiger-Thirsfeld, J. Füssl:
"EDX/XRD-Based Identification of Micrometer-Sized Domains in Scanning Electron Micrographs of Fired Clay";
Materials and Structures,
53
(2020),
109.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1617/s11527-020-01531-7
Elektronische Version der Publikation:
https://doi.org/10.1617/s11527-020-01531-7
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.