Zeitschriftenartikel:
M. Jech, G.A. Rott, H. Reisinger, S. Tyaginov, G. Rzepa, A. Grill, D. Jabs, C. Jungemann, M. Waltl, T. Grasser:
"Mixed Hot-Carrier/Bias Temperature Instability Degradation Regimes in Full {VG, VD} Bias Space: Implications and Peculiarities";
IEEE Transactions on Electron Devices,
67
(2020),
8;
S. 3315
- 3322.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2020.3000749
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/JB2020_Jech_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.