Zeitschriftenartikel:
B. Ruch, G. Pobegen, T. Grasser:
"Investigation of the Temperature Dependence of Hot-Carrier Degradation in Si MOSFETs Using Spectroscopic Charge Pumping";
IEEE Transactions on Electron Devices,
67
(2020),
10;
S. 4092
- 4098.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2020.3018091
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/JB2020_Ruch_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.