Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Kruv, B. Kaczer, A. Grill, M. Gonzalez, J. Franco, D. Linten, W. Goes, T. Grasser, I. De Wolf:
"On the Impact of Mechanical Stress on Gate Oxide Trapping";
Vortrag: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Dallas, TX, USA - virtual;
28.04.2020
- 30.04.2020; in: "Proceedings of the IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2020),
S. 1
- 5.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS45951.2020.9129541
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/CP2020_Kruv_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.