Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Vasilev, M. Jech, A. Grill, G. Rzepa, C. Schleich, A. Makarov, G. Pobegen, T. Grasser, M. Waltl, S. E. Tyaginov:
"Modeling the Hysteresis of Current-Voltage Characteristics in 4H-SiC Transistors";
Vortrag: IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, CA, USA - virtual;
04.10.2020
- 08.10.2020; in: "Proceedings of the International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
(2020),
S. 1
- 4.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW49815.2020.9312864
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2020/CP2020_Vasilev_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.