Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
S. Naz, A. Shah, S. Ahmed, G. Patrick, M. Waltl:
"Design of Fault-Tolerant and Thermally Stable XOR Gate in Quantum dot Cellular Automata";
Poster: IEEE European Test Symposium (ETS),
Bruges, Belgium (Virtual);
24.05.2021
- 28.05.2021; in: "Proceedings of the IEEE European Test Symposium (ETS)",
(2021).
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ETS50041.2021.9465459
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2021/CP2021_Naz_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.