Zeitschriftenartikel:
D. Waldhör, C. Schleich, J. Michl, B. Stampfer, K. Tselios, E. Ioannidis, H. Enichlmair, M. Waltl, T. Grasser:
"Toward Automated Defect Extraction From Bias Temperature Instability Measurements";
IEEE Transactions on Electron Devices,
68
(2021),
8;
S. 4057
- 4063.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2021.3091966
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2021/JB2021_Waldhoer_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.